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镀层测厚仪的原理介绍,使用需要注意什么?

发布日期:2022-04-24      浏览次数:240
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。镀层测厚仪广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护的专业仪器。
 
原理:
 
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
 
镀层测厚仪在使用过程中需要注意哪几个方面:
 
1、对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似;对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
 
2、检查基体金属厚度是否超过临界厚度。
 
3、不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
 
4、不应在试件的弯曲表面上测量。
 
5、通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
 
6、测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
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