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天瑞X射线镀层测厚仪具有哪些优势特点呢?

更新时间:2023-12-23  |  点击率:395
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。
 
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
 
天瑞X射线镀层测厚仪对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析,适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。仪器具有哪些优势特点呢?
 
可靠的高性能:测试精度、稳定性高,在提供高质量的同时减少浪费和停机时间。
更高的性价比:制造工艺升级,更具性价比,大大节省使用成本。
前沿检测技术:高级成垂直光路系统,采用先进的解谱技术和影像识别算法,实现精准、快速、智能、自动检测,满足企业检测需求。
使用寿命更长:模块化设计,聚焦节能,搭载自动休眠模式,延长使用寿命。
核心EFP算法:先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准方便,而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题。
四焦一体装置:搭载高集成四焦技术,可测量最大90mm深度的凹槽高低落差异形件。
上照式设计:上下位机管理分工,可实现对超大型工件的快、准、稳高效测量。
适用性强:精准测量各类金属镀层厚度的同时可对电镀液进行分析。
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