镀层测厚仪的三种工作原理介绍

　　镀层测厚仪是一种用于测量金属或其他材料表面镀层厚度的仪器，广泛应用于制造业、质量检测等领域。镀层测厚仪通过不同的物理原理来测量涂层的厚度，常见的原理包括磁性感应原理、涡流原理和X射线荧光原理。磁性感应原理适用于测量非磁性涂层在磁性基材上的厚度，涡流原理适用于测量导电性涂层在导电性基材上的厚度，X射线荧光原理则通过测量被激发出的荧光X射线的能量和强度来确定镀层的元素组成和厚度。
 

　　1、磁性感应原理：
 

　　利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
 

　　适用于测量非磁性涂层在磁性基材上的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。
 

　　2、涡流原理：
 

　　当交变电流通过线圈时，会在导体中产生涡流。镀层测厚仪的探头发射交变电流，涂层中的涡流会对探头产生影响，通过测量这种影响的变化，可以计算出涂层的厚度。
 

　　适用于测量导电性涂层在导电性基材上的厚度，如金属涂层、电镀层等。
 

　　3、X射线荧光原理：
 

　　通过向被测物体表面发射X射线，激发其表面元素产生荧光信号，然后通过探测器收集反射回来的荧光信号，经过智能软件算法推算出镀层的厚度。
 

　　具有测量精确、速度快、操作简单等优点，特别适用于检测难度大的微小样品。
 

　　全面升级XD-1000全自动智能X荧光光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件，如线路
板、引线支架、卫浴产品等。搭载四焦技术，人机交互全面优化，操作更加方便快捷。