WDX波长色散元素分析仪是一种基于X射线荧光光谱原理，用于多元素定性与定量分析的科学仪器。其工作原理通过对样品受激产生的特征X射线按波长进行分离与检测，实现对元素种类与含量的精确测定，广泛应用于地质、冶金、材料、环保及质检等领域。 1、仪器的基本结构包括X射线源、样品室、分光晶体、测角仪与探测器。X射线源发射初级X射线，照射样品后，样品中原子的内层电子被击出，外层电子跃迁填补空位时释放出具有特定能量的特征X射线。这些特征X射线的能量与波长由元素的原子序数决定。核心在于利用分光晶体对特征X射线进行衍射，依据布拉格定律，不同波长的X射线在特定入射角下被衍射到不同方向，从而实现按波长分离。测角仪精确控制晶体与探测器的角度关系，使不同元素的特征X射线依次进入探测器。探测器将X射线光子转换为电信号，经放大与处理后形成可供分析的谱线。
2、由于不同元素的特征X射线波长差异微小，需通过高精度的角度与晶体控制才能实现有效分离。因此，在机械结构与光学调节上具有较高要求，测角仪的角度分辨率与重复性直接影响元素分辨能力和定量准确性。分光晶体的种类与排列方式决定了可分析的元素范围与灵敏度，不同晶体适用于不同波长区间，以覆盖从轻元素到重元素的分析需求。探测器通常采用流气式正比计数器或闪烁计数器，前者适于轻元素检测，后者适于重元素检测，两者结合可拓宽分析范围并保证信号强度。
3、在应用方面，WDX波长色散元素分析仪适合对固体、粉末及液体样品进行多元素同时测定。在地质勘探中，可快速测定岩石与矿物中主要及微量元素含量，为矿产评价与成因研究提供数据。在冶金与金属材料领域，用于合金成分分析、杂质检测与质量控制，保障材料性能符合标准。在环境与固废检测中，可分析土壤、沉积物及废弃物中有害元素含量，评估污染水平与治理效果。在水泥、玻璃、陶瓷等工业领域，用于原料与成品的成分监控，优化配方与工艺。该仪器还被用于考古、刑侦及食品安全等领域的元素指纹分析，为来源判别与真伪鉴别提供依据。
4、分析优势在于元素分辨率高，可区分波长接近的谱线，降低多元素共存时的干扰；定量分析准确度高，尤其适合对主量及次量元素进行高精度测定；稳定性好，适合长时间连续分析。其局限性在于设备结构复杂、成本较高，对样品表面平整度与均匀性有一定要求，分析轻元素时灵敏度相对较低。
5、使用WDX需进行仪器校准与标准化。通过测量已知成分的标准样品，建立元素信号强度与浓度的校准曲线，并定期验证与修正。样品制备应确保表面平整、无污染，粉末样品需压片或熔融成均匀片体，以减少基体效应与颗粒效应影响。测试过程中应监控仪器状态与谱线质量，发现漂移或异常及时维护。
WDX波长色散元素分析仪通过X射线激发、晶体分光与角度控制，实现对元素特征谱线的精确分离与检测，具备高分辨率与高定量准确度的优势，在多种领域的元素分析中发挥重要作用。
13392868367 / 13714498721
当前位置：
电子邮箱：
公司地址：龙岗中心城荔园大厦