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电镀镀层膜厚分析仪的主要功能与原理

更新时间:2020-12-28  |  点击率:961
   电镀镀层膜厚分析仪可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在汽车涂覆层测厚中可谓大展身手。
 
  电镀镀层膜厚分析仪的主要功能:
  (1).测量:单探头全量程测厚。
  (2).存储、删除:可存入测量数据600个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。
  (3).读:读出已存入的测量数据。
  (4).统计:设有三个统计量。
  (5).校准:可进行零点校准、两点校准及系统校准。
  (6).电量:具有欠压显示功能。
  (7).蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示。
  (8).打印:可打印测量值,选配微型打印机。
  (9).关机:具有自动关机和手动关机两种方法。
 
  电镀镀层膜厚分析仪的原理:
  若一个电子由轨道游离,则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置,以达到稳定的状态,此种不同能阶转换的过程可释放出能量,即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同,所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
 
  原子的特性由原子序来决定,亦即质子的数目或轨道中电子的数目,即特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多,而不同的原子序也会造成不同的能量差。
 
  特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
 
  使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
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