全面升级XU-100镀层测厚仪高精尖检测技术，搞定企业品质管控！XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。应用行业：电镀层分析紧固

全面升级XD-1000全自动智能X荧光光谱测厚仪XD-1000上照式光谱测厚仪，XD-1000镀层测厚仪对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件，如线路
板、引线支架、卫浴产品等。搭载四焦技术，人机交互全面优化，操作更加方便快捷。

化学镀镍 浸金(ENIG)系列光谱分析仪是一款专门为细小部件测量镀层量身打造的精密仪器，拥有先进的高清CCD可以变焦配置，可以测试凹槽产品；拥有精密的瑞士移动滑轨，可以精确定位任何小样品的测试点，方便快捷；拥有算法EFP法，不但使用了光谱发射法计算，同时也使用了光谱吸收法计算，即使是以往设备的难题，同一金属镀了两层，我们也能精确测量。

XTU涂镀层厚度检测仪是一款专门为细小部件测量镀层量身打造的精密仪器，拥有先进的高清CCD可以变焦配置，可以测试凹槽产品；拥有精密的瑞士移动滑轨，可以精确定位任何小样品的测试点，方便快捷；拥有算法EFP法，不但使用了光谱发射法计算，同时也使用了光谱吸收法计算，即使是以往设备的难题，同一金属镀了两层，我们也能精确测量。

毛细管聚焦X荧光镀层测厚仪、连接器测厚仪 此系列产品可测量金属准直无法测量的微区，多导毛细聚焦管光学元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以测量微电子设备、高级电路板、连接器、引脚框架和晶片的超微小区域。 可以测量纳米级的镀层，毛细聚焦管能将更多的X射线输出聚焦到样品上，可以敏感的反应镀层纳米级厚度变化。其焦斑小区域上的X射线强度比金属准直系统高出几个数量级。 可以实现更高的测试精度

XTU系列五金电镀测厚仪测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动.

X射线荧光膜厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动.

柔性线路板X射线膜厚仪 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm