膜厚分析仪根据测量原理可以分为这几种类型

　　1、磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高

 

　　2、涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低

 

　　3、超声波测厚法：目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，个别有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。

 

　　4、电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。

 

　　膜厚分析仪的性能特点：

　　满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；

 

　　小孔准直器可以满足微小测试点的需求；

 

　　移动平台可定位测试点，重复定位精度小；

 

　　采用高度定位激光，可自动定位测试高度；

 

　　定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；

 

　　鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；

 

　　高分辨率探头使分析结果更加；

 

　　良好的射线屏蔽作用；

 

　　测试口高度敏感性传感器保护。

 

　　膜厚分析仪具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。