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膜厚分析仪根据测量原理可以分为这几种类型

发布日期:2022-08-19      浏览次数:233
   膜厚分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
  1、磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高
 
  2、涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低
 
  3、超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,个别有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。
 
  4、电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。
 
  膜厚分析仪的性能特点:
  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求;
 
  小孔准直器可以满足微小测试点的需求;
 
  移动平台可定位测试点,重复定位精度小;
 
  采用高度定位激光,可自动定位测试高度;
 
  定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐;
 
  鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;
 
  高分辨率探头使分析结果更加;
 
  良好的射线屏蔽作用;
 
  测试口高度敏感性传感器保护。
 
  膜厚分析仪具有广泛使用范围的磁性和非磁性及两用仪器。能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
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