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本产品符合国标GB/T 18043-2013对仪器分辨率的要求，天瑞能量色散X射线荧光光谱仪EDX 3000采用Si-Pin半导体探测器，远胜于正比计数探测器； 准确无误地分析黄金， 铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量。
天瑞X射线荧光光谱仪EDX3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。
天瑞X射线荧光光谱仪EDX8000L利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。
天瑞X射线荧光光谱仪EDX3600H融汇合金分析技术，配备智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
天瑞X射线荧光光谱仪Thick600是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。Thick600镀层测厚仪使用实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
天瑞X射线荧光光谱仪EDX4500是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
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