全元素分析仪（ROHS检测仪）用于检测电子电气产品中铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr⁶⁺）、多溴联苯（PBB）、多溴二苯醚（PBDE）等有害物质含量，确保产品符合环保法规。以下是其使用指引及关键操作步骤：一、操作前准备仪器检查确认仪器外观无损坏，电源线、数据线连接稳固。检查X射线管、探测器窗口是否清洁，无遮挡或异物。确保测试环境无强电磁干扰，温度15-30℃，湿度≤80%。开机预热开启仪器电源，启动分析软件，预热30分钟（部分型号需1小时），确保X射线管稳定。...

手持式X荧光分析仪是一种基于X射线荧光（XRF）光谱分析技术的便携式分析设备，广泛应用于材料成分分析、地质勘探、环境监测、工业检测等领域。仪器内置的X射线管发射初级X射线，照射到样品表面后，样品中的原子被激发并产生特征X射线荧光。探测器捕捉荧光信号，通过能量色散或波长色散技术将信号转换为光谱，再利用算法解析光谱，确定样品中元素的种类和含量。一、技术特点：便携性：体积小、重量轻，便于现场快速检测。多元素分析：可同时检测多种元素，覆盖周期表中的轻元素（如镁、铝）到重元素（如铅、铀...

镀层测厚仪是一种用于测量金属或其他材料表面镀层厚度的仪器，广泛应用于制造业、质量检测等领域。镀层测厚仪通过不同的物理原理来测量涂层的厚度，常见的原理包括磁性感应原理、涡流原理和X射线荧光原理。磁性感应原理适用于测量非磁性涂层在磁性基材上的厚度，涡流原理适用于测量导电性涂层在导电性基材上的厚度，X射线荧光原理则通过测量被激发出的荧光X射线的能量和强度来确定镀层的元素组成和厚度。1、磁性感应原理：利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。覆层越厚，则磁阻...

国产固定道WDXRF与进口WDXRF在硅基材料分析中的对比与应用推荐波长色散X射线荧光光谱仪（WavelengthDispersiveX-rayFluorescence，WDXRF）是一种广泛应用于材料分析的技术，尤其在硅基材料（如半导体、玻璃、硅片等）中具有重要作用。进口WDXRF设备虽然在性能上表现优异，但成本较高，而国产固定道WDXRF近年来发展迅速，在许多应用场景中已能满足实际需求。本文通过对比国产固定道WDXRF与进口WDXRF，在硅基材料分析中的性能表现，并结合实...

X射线荧光光谱仪原理及主要技术指标对比X射线荧光光谱仪（简称：XRF）X荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内...