ROHS测试分析仪在电子电气产品有害物质检测领域发挥着重要作用。然而，在使用过程中，仪器也可能会出现一些常见故障，了解这些故障及相应的维护技巧对于保证仪器的正常运行至关重要。信号不稳定是ROHS测试分析仪常见的故障之一。这可能是由于仪器内部的电路连接松动或者外部干扰所导致。当出现这种情况时，首先要检查仪器的电源连接是否稳固，各个接口处的连接是否紧密。同时，要注意避免仪器附近有强电磁干扰源，若有必要，可对仪器进行屏蔽防护。测量数据不准确也是可能遇到的问题。这往往与仪器的校准有关...

全元素分析仪（ROHS检测仪）用于检测电子电气产品中铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr⁶⁺）、多溴联苯（PBB）、多溴二苯醚（PBDE）等有害物质含量，确保产品符合环保法规。以下是其使用指引及关键操作步骤：一、操作前准备仪器检查确认仪器外观无损坏，电源线、数据线连接稳固。检查X射线管、探测器窗口是否清洁，无遮挡或异物。确保测试环境无强电磁干扰，温度15-30℃，湿度≤80%。开机预热开启仪器电源，启动分析软件，预热30分钟（部分型号需1小时），确保X射线管稳定。...

手持式X荧光分析仪是一种基于X射线荧光（XRF）光谱分析技术的便携式分析设备，广泛应用于材料成分分析、地质勘探、环境监测、工业检测等领域。仪器内置的X射线管发射初级X射线，照射到样品表面后，样品中的原子被激发并产生特征X射线荧光。探测器捕捉荧光信号，通过能量色散或波长色散技术将信号转换为光谱，再利用算法解析光谱，确定样品中元素的种类和含量。一、技术特点：便携性：体积小、重量轻，便于现场快速检测。多元素分析：可同时检测多种元素，覆盖周期表中的轻元素（如镁、铝）到重元素（如铅、铀...

镀层测厚仪是一种用于测量金属或其他材料表面镀层厚度的仪器，广泛应用于制造业、质量检测等领域。镀层测厚仪通过不同的物理原理来测量涂层的厚度，常见的原理包括磁性感应原理、涡流原理和X射线荧光原理。磁性感应原理适用于测量非磁性涂层在磁性基材上的厚度，涡流原理适用于测量导电性涂层在导电性基材上的厚度，X射线荧光原理则通过测量被激发出的荧光X射线的能量和强度来确定镀层的元素组成和厚度。1、磁性感应原理：利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。覆层越厚，则磁阻...

国产固定道WDXRF与进口WDXRF在硅基材料分析中的对比与应用推荐波长色散X射线荧光光谱仪（WavelengthDispersiveX-rayFluorescence，WDXRF）是一种广泛应用于材料分析的技术，尤其在硅基材料（如半导体、玻璃、硅片等）中具有重要作用。进口WDXRF设备虽然在性能上表现优异，但成本较高，而国产固定道WDXRF近年来发展迅速，在许多应用场景中已能满足实际需求。本文通过对比国产固定道WDXRF与进口WDXRF，在硅基材料分析中的性能表现，并结合实...