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X射线电镀层测厚仪

简要描述:X射线电镀层测厚仪专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-24
  • 访  问  量:28
详细介绍

工作原理

 

X射线射到电镀层表面,产生X射线荧光,根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度,,测量镀层范围广,适合细微面积及超薄镀层的测量。

 QQ图片20150603095300_meitu_1.jpg

原理图

 

X射线电镀层测厚仪产品优势

 

x射线电镀层测厚仪样品处理方法简单或无前处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保证
快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理。
无损:物理测量,不改变样品性质
准确:对样品可以分析
直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快
环保:检测过程中不产生任何废气、废水

 

X射线电镀层测厚仪基本参数

 

x射线电镀层测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的精准分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
样品台尺寸:230(W)×210(D)mm
移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围:0-140mm

 

测试实例

图片3_meitu_2.jpg

测试对象:LED引脚

仪器:Thick800A
测定步骤:
步:新建Ag/Ni/Cu/Fe镀层标准曲线
第二步:确定测试时间:30S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差

图片4_meitu_3.jpg

x射线电镀层测厚仪测试谱图

图片5_meitu_4.jpg 

LED引脚Ag/Ni/Cu/Fe 三镀层重复性测试数据


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