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金属镀层测厚分析仪

简要描述:金属镀层测厚分析仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-24
  • 访  问  量:28
详细介绍

详细内容

 性能特点

金属镀层测厚分析仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号:Thick 800A金属镀层测厚分析仪
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
金属镀层测厚分析仪分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

原理

金属镀层测厚分析仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线源辐射强度的大小,与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度,为了确定其所需的X射线能量值,可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时,系统将设定X射线的能量值,使检测能够顺利完成。
金属镀层测厚分析仪在厚度一定的情况下,X射线的能量值为常量。当安全快门打开,X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过,被测钢板将一部分能量吸收,剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收,探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测钢板的厚度,则所吸收的X射线量也将改变,这将使探头所接收的X射线量发生变化,检测信号也随之发生相应的变化。
金属镀层测厚分析仪按射线源的种类可分为X射线测厚仪与核辐射线测厚仪两类,而后者又可多r射线测厚仪与 射线测厚仪。按射线与被测板材的作用方式,又可分为穿透式和反射式。
金属镀层测厚分析仪是利用射线与物质相互作用时,为物质所吸收或散射的效应来进行测量的一种仪表。其主要特点:
(1)可进行连续和不接触地测量;
(2)测量精度较高;
(3)反应速度较快;
(4)能够给出供湿示、记录与控制的电信号,易于实现生产自动化。

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
金属镀层测厚分析仪高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机


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