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型号:

x射线膜厚测试仪THICK8000

描述:x射线膜厚测试仪THICK8000是一款快速、无损、精确的电镀城厚度测试仪器,主要用在镀锌(Zn)、镀镍(Ni)、镀锡(Sn)、镀金(Au)、镀银(Ag)等金属镀层厚度测测试,*薄可测试0.005μm,为企业严格控制产品质量,防止镀的过厚(增加产品成本)或者过薄(产品不合格)带来的损失.

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-04-27
  • 访问量

    848
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

x射线膜厚测试仪X射线激发源:5OKV/1000μA-钨靶X光管及高压电源

探测器及分辨率:SDD探测器,分辨率140±5eV

定位精度:0.001mm

测量时间:10s及以上

样品平台移动范围:120mm×120mm

样品腔升降平台移动高度:0~150mm

 

主机壹台,含下列主要部件:  

(1)微焦斑X光管                  

(2)大面积SDD电制冷半导体探测器

(3)数字多道分析器

(4)超高精度三维移动平台

(5)全景和局部两个工业高清摄像头

(6)高低压电源

(7)激光定位装置及图像自动对焦技术

(8)开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩

(9)电动调节准直器

(10)防撞激光保护器

x射线膜厚测试仪资料:仪器使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。

标准附件

准直孔:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种(已内置于仪器中)


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