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x射线荧光镀层测厚仪

简要描述:x射线荧光镀层测厚仪是一款针对金属电镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡等)厚度的,通过X荧光照射出产品,每个元素反射出的二次特征谱线,通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度,完全达到无损、快速分析的效果,产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业(铝平行管、电镀五金),连接器企业、开关企业等。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-25
  • 访  问  量:28
详细介绍

XRF(THICK800A)电镀镀层测厚仪

Thick800A-big.jpg



性能优势

新款Thick8000x射线荧光测厚仪秉承了上一代Thick800A的优点,在此基础上设计了三维移动平台,先进的样品观测系统和图像识别功能,满足了槽状样品的测试和不同规格样品的测试,同时加上大面积的高分辨率的探测器,大大提高了准确度,为客户提供更的测试,从而降低产品的成本,提高产品的竞争力。

技术参数

可以分析从硫到铀之间的元素,同时可以测试24种元素之多,含量范围一般从2PPM到百分之99.9;镀层厚度一般在50μm以内,不同材质略有差异,先进的SDD探测器,高清的工业摄像头,仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

样品台尺寸:393Wx 258 Dmm


应用领域

x射线荧光测厚仪主要应该用在电子电器(线路板/PCB)、五金工具、电镀加工、制冷设备、半导体、五金配件、端子连接器、腔体等企业中。

QQ截图20160921143420_meitu_4.jpg

镀层产品图

x射线荧光镀层测厚仪技术参数

 

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
分析含量一般为2ppm99.9%
仪器尺寸:576W x 495 D x 545H
 mm
重量:90 kg

 

x射线荧光镀层测厚仪性能优势

 

采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点


x射线荧光镀层测厚仪产品配置

 

一、硬件:主机壹台,含下列主要部件: 
(1)   X
光管                  (2) si-pin探测器

(3) 信号检测电子电路        (4) 高精度二维移动平台
(5) 高清晰摄像头            (6)高低压电源
(7)  开放式样品腔            (8 双激光定位装置
(9)  铅玻璃屏蔽罩


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