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X荧光膜厚仪

简要描述:X荧光膜厚仪是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值,一种无损、快速、的膜厚测试仪器,对金属镀层(镀金、镀锡、镀锌、镀铝、镀铅、镀银、镀镍等)

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-25
  • 访  问  量:31
详细介绍

膜厚仪thick系列产品优势


的样品观测系统

先进的图像识别

精密的三维移动平台

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器,自动切换

双重保护措施,实现无缝防撞

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦

直接点击全景或局部景图像选取测试点

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果

采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动退出自检、复位

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样

X荧光膜厚仪技术参数

 

长期工作稳定性高,故障率低。

多变量非线性回收程序

相互独立的基体效应校正模型

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层(镀金、镀锡、镀锌等)

一次可同时分析多达五层镀层,快速、准确。

薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm99.9% 

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

度适应范围为15℃30℃

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576W) x 495 D) x 545H) mm

重量:90 kg

 

X荧光膜厚仪性能优势

 

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

 

X荧光膜厚仪检测实例

 

铜镀镍样品

 铝业网图片

X荧光膜厚仪测试谱图

 

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257


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