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首页 > 产品中心 > > 电镀镀层膜厚分析仪 > X荧光镀层膜厚仪Thick8000

X荧光镀层膜厚仪Thick8000

简要描述:X荧光镀层膜厚仪Thick8000主要应用于金属镀层膜厚的检测,镀金、镀镍、镀锌、镀银等,Thick8000是目前公司达的一款,有着先进的三维移动平台,清晰的样品观测系统,国内品牌。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-25
  • 访  问  量:22
详细介绍

仪器介绍
乔邦金属镀层膜厚仪是乔邦集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

Thick800A.jpg

乔邦X射线膜厚仪性能指标


精密的三维移动平台
全自动智能控制方式,一键式操作
同时检测元素:多24种,多达5层镀层
镀层厚度:50μm以内(每种材料有所不同)


硬件

 

全景和局部两个工业高清摄像头

高低压电源

主机壹台,含下列主要部件: 

微焦斑X光管                 

大面积SDD电制冷半导体探测器

数字多道分析器

超高精度三维移动平台

开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩

电动调节准直器

防撞激光保护器

激光定位装置及图像自动对焦技术

 

软件及其他

 

X射线荧光光谱仪FpThick分析软件

计算机、打印机各一台

仪器使用说明书

标准附件

准直孔:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种(已内置于仪器中)

 

技术指标

 

先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

分析元素范围:硫(S)~铀(U

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

准直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

样品台尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃30℃


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