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型号:

金镍厚检测仪 Thick8000

描述:金镍厚检测仪 Thick8000
仪器介绍Thick 8000金镍厚检测仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2023-05-21
  • 访问量

    457
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

Thick 8000高精度全自动膜厚仪仪器配置                                           

 1    硬件:主机壹台,含下列主要部件: 

(1)   X光管                 

(2) 半导体探测器

(3) 放大电路                

(4) 高精度样品移动平台

(5) 高清晰摄像头            

(6) 高压系统

(7) 上照、开放式样品腔      

(8)双激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2   软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03   计算机、打印机各一台计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)4   资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。 


Thick 8000高精度全自动金镍厚检测仪膜厚仪

参数规格1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 
2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;
3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;
4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);
5.SDD探测器:分辨率低至135eV;
6.*微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm;
7.样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头; 
8.准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合; 
9.仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um;

性能特点1.精密的三维移动平台; 
2.的样品观测系统; 
3.*图像识别; 
4.轻松实现深槽样品的检测; 
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换; 
6.双重保护措施,实现无缝防撞; 
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度。

安装要求:1   环境温度要求:15℃-30℃2   环境相对湿度:<70%3   工作电源:交流220±5V4   周围不能有强电磁干扰


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