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X射线测厚仪xtu

简要描述:X射线测厚仪xtu,X射线测厚仪主要应用于金属镀层膜厚的检测,镀金、镀镍、镀锌、镀银等。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-26
  • 访  问  量:23
详细介绍

技术指标

先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

分析元素范围:硫(S)~铀(U)

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm到99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃


上照式X射线测厚仪可以检测精密电子加工业的镀金层厚度,PCB线路板镀金层、镀银层厚度检测,相比普通测厚仪,上照式电镀层测厚仪可以检测任何不规则形状和0.2mm宽以上的样品镀层测试。上照式电镀层测厚仪的品牌主要是三个,德国菲希尔,江苏天瑞仪器,以及英国牛津,天瑞仪器生产的电镀层测厚仪型号是xtu,质量高,性价比高,销售市场占有率达40%以上。

 


 

 

  

镀层测厚仪性能

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:40kg

X射线测厚仪xtu

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

X射线测厚仪xtu

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。


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