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江苏X荧光膜厚仪

简要描述:江苏X荧光膜厚仪主要应用于金属镀层膜厚的检测,镀金、镀镍、镀锌、镀银等,XTU荧光膜厚仪是目前公司达的一款,有着先进的三维移动平台,清晰的样品观测系统,国内品牌。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-26
  • 访  问  量:32
详细介绍

技术指标

 

先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

分析元素范围:硫(S)~铀(U)

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm到99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃

技术指标

 

先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

分析元素范围:硫(S)~铀(U)

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm到99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃




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