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型号:

x射线镀层测厚仪XTU价格

描述:x射线镀层测厚仪XTU价格介绍
x射线镀层测厚仪XTU主要应用于:金属镀层(镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锌,镀锡等)的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测.

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-04-27
  • 访问量

    689
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

性能介绍

 

设计科学,安全稳定

在设备整体设计上打破了传统测厚仪设计模式,机体结构设计科学,更多的添加了人性化设计元素.

操作方便,工作效率高

采用软硬件相配合的方式,通过机电联动实现高效的运转,提升厚度测量时效,毕竟这种设备主要被使用在镀层生产企业,在使用中势必要满足生产需求。

精准度高,误差率低

电镀膜厚测量仪在使用中,不仅工作效率快,测量方便,另外测量数据同时也非常精准,这一点离不开设备所采用的X射线荧光检测技术,利用X射线穿透被测物,通过射线穿透的时间确定被测物的厚度,这种测量方式可对大批量物体实现质量(厚度)检测,保证被测物在检测过程中不会有任何的损伤,测量误差率非常低,正是因为这种性能,使得电镀测量仪被广泛使用在半导体生产行业;

 

技术指标

 

型号:XTU

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:40kg

 

标准配置

 

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机


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