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银层膜厚仪

简要描述:银层膜厚仪主要检测金属镀层银层厚度,同时可以测试金层,镍层,锌层等镀层厚度,快速、无损,得到了客户的广泛应用和认可。多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-26
  • 访  问  量:35
详细介绍

产品介绍

 

银层膜厚仪主要检测金属镀层银层厚度,同时可以测试金层,镍层,锌层等镀层厚度,快速、无损,得到了客户的广泛应用和认可。根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

标准配置

 

X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

 

银层膜厚仪性能特点

 

专业贵金属检测

智能贵金属软件,与仪器相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型

多变量非线性回收程序

 

银层膜厚仪技术指标

 

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

X射线管:管电压50KV,管电流1mA 

可测元素:Ti~U 

检测器:正比计数管 

样品观察:CCD摄像头

测定软件:薄膜FP法、检量线法 

Z轴程控移动高度 20mm


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