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型号:XTD

X光膜厚仪测厚仪

描述:X光膜厚仪测厚仪是集多年贵金属检测技术和经验,以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2023-05-22
  • 访问量

    506
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

X光膜厚仪测厚仪性能特点

 

专业贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。


 

X光膜厚仪测厚仪技术指标

 

元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。
测量对象:固体、液体、粉末
分析检出限可达:ppm。
分析含量一般为:ppm到99.9%。
多次测量重复性可达:0.1%。
长期工作稳定性为:0.1%。

 

标准配置

 

单样品腔。
正比计数盒探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
外观尺寸: 430×380×355mm 
样品腔尺寸:306×260×78mm 
重量:30kg

 


 

 

 

应用领域

 

黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
X光膜厚仪测厚仪金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。


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