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X荧光电镀层测厚仪

简要描述:X荧光电镀层测厚仪是仪器镀层系列产品中的“明星产品“,其配置基本达到了智能化水平,二维移动平台基本达到了三维效果,测试点与点之间的微小距离更加,采用上照式方式,满足不同规格产品的检测,降低了对产品规格的要求,满足拿来即测的需求

  • 产品型号:XAU
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-30
  • 访  问  量:111
详细介绍

标准配置

 

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

保护传感器

计算机及喷墨打印机

 

X荧光电镀层测厚仪性能特点

 

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

 

X荧光电镀层测厚仪技术指标

 

名称及型号:X荧光电镀层测厚仪

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

温度适应范围为15℃至30℃。

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm99.9% 

电源交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:35kg

 

应用领域

 

X荧光电镀层测厚仪广泛应用于PCB线路板、电子连接器、高压开关、电子电器、卫浴、首饰、制冷设备,电镀加工等企业中。


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