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品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装 |
X射线荧光测厚仪性能优势
新款XTU射线荧光测厚仪秉承了上一代的优点,在此基础上设计了三维移动平台,*样品观测系统和图像识别功能,满足了槽状样品的测试和不同规格样品的测试,同时加上大面积的高分辨率的探测器,大大提高了准确度,为客户提供更的测试,从而降低产品的成本,提高产品的竞争力。
X射线荧光测厚仪技术参数
可以分析从硫到铀之间的元素,同时可以测试24种元素之多,含量范围一般从2个PPM到百分之99.9;镀层厚度一般在50μm以内,不同材质略有差异,*SDD探测器,高清的工业摄像头,仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
部分产品
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应用领域
x射线荧光测厚仪主要应该用在电子电器(线路板/PCB)、五金工具、电镀加工、制冷设备、半导体、五金配件、端子连接器、腔体等企业中。
产品分类
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