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乔邦金属镀层测厚仪

简要描述:金属镀层测厚仪集多年的经验,研发用于电镀层行业的一款高精度无损测试仪器,仪器可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,完全达到了自动化,是一款功能强大的仪器,为客户解决了测试难题,在电镀检测中大展身手。

  • 产品型号:XD-1000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-04-09
  • 访  问  量:39
详细介绍

金属镀层测厚仪参数规格

1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 
2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;
3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;
4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);
5.SDD探测器:分辨率低至135eV;
6.先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm;
7.样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头; 
8.准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合; 
9.仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s;

13.X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um;天瑞仪器是专业的金属涂层测厚仪厂家,

应用行业

1、 电子半导体行业接插件和触点的厚度测量

2、 印刷线路板行业功能镀层厚度测量

3、 贵金属首饰手表行业镀层厚度测量

4、 五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量

金属镀层测厚仪

一般有以下几种方法:1、光学显微镜法。适用标准为:GB/T6462-20052、X-ray法(X射线法)。适用标准为:GB/T16921-20053、库仑法,此法一般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4955-2005测量标准1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法2.美国标准A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

 

测试实例

金属涂层测厚仪在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素,大大提高测试稳定性、降低检测限。


11次测量结果(Au-Cu)的稳定性数据对比如下:

次数XD-1000   行业内其他仪器
10.0420.0481
20.0430.0459
30.0430.0461
40.04120.0432
50.04290.0458
60.04360.0458
70.04270.0483
80.04250.045
90.04160.0455
100.04320.0485
110.04220.043
平均值0.04250.0459
标准偏差0.00070.0019
相对标准偏差1.70%4.03%
极差0.00240.0055

测试结论:实验表明,使用电镀膜厚测试仪对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试精度优于国外仪器。



仪器性能特点

1.满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

2.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求,可以对同一镀件不同部位测试厚度

3.高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

4.采用高度定位激光,可自动定位测试高度

5.定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

6.鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

7.高分辨率探头使分析结果更加精准

8.良好的射线屏蔽作用

9.测试口高度敏感性传感器保护

仪器参数规格

1   分析元素范围:S-U

2   同时可分析多达5层以上镀层

3   分析厚度检出限达0.005μm

4   多次测量重复性可达0.01μm

5   定位精度:0.1mm

6   测量时间:30s-300s

7   计数率:1300-8000cps

8   Z轴升降范围:0-140mm

9   X/Y平台可移动行程:50mm(W)×50mm(D)

仪器软件优势:                                    

仪器采用研发团队研发的能量色散X荧光软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式,测试时元素观察更直观。软件具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

测试实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。


以下使用XD-1000仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。
       
                                        铜镀镍件X射线荧光测试谱图

样 品 名成分Ni(%)镀层Ni(um)
吊扣10019.321
吊扣2#10019.665
吊扣3#10018.846
吊扣4#10019.302
吊扣5#10018.971
吊扣6#10019.031
吊扣7#10019.146
平均值10019.18314
标准偏差00.273409
相对标准偏差01.425257

铜镀镍件测试值结论

实验表明,使用XD-1000金属电镀层厚度分析仪对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。


金属电镀层厚度分析仪是对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。测试方法主要分为:电涡流法、磁感应法、金相法、库仑法以及X射线荧光法。今天,我们主要为您讲解后三种方法的区别以及关系。


4.应用X荧光法的优势

1.紧固件螺丝镀层测厚仪样品处理方法简单或无前处理

2.可快速对样品做定性分析

3.对样品可做半定量或准定量分析

4.谱线峰背比高,分析灵敏度高

5.不破坏试样,无损分析

6.试样形态多样化(固体、液体、粉末等)

7.设备可靠、维修、维护简单

8.快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理

9.无损:物理测量,不改变样品性质

10.准确:对样品可以分析

11.直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快

12.环保:检测过程中不产生任何废气、废水。



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