X光无损测厚仪

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

X光无损测厚仪原理

产生X射线的简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能（其中的1%）会以光子形式放出，形成X光光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了X光谱中的特征线，此称为特性辐射。

X光无损测厚仪测量标准

1.国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

 2.美国标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence