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X光无损测厚仪

简要描述:X光无损测厚仪主要用于检测金属电镀层厚度(如镀金、镀银、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯……);在企业品质检测、来料管控方面,得到广泛的应用。X光无损测厚仪是专业测试电镀层厚度的厂家,乔邦仪器销售的镀层测厚仪;仪器采用上照式结构,测试,软件界面简洁,测试样品用时40S,售后服务可靠及时。

  • 产品型号:XD-1000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-04-15
  • 访  问  量:26
详细介绍

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法:

1、光学显微镜法。适用标准为:GB/T6462-2005

2、X-ray法(X射线法)。适用标准为:GB/T16921-2005

3、库仑法,此法一般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4955-2005

 

X光无损测厚仪原理

 

产生X射线的简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中,电子突然减速,其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出,形成X光光谱的连续部分,称之为制动辐射。通过加大加速电压,电子携带的能量增大,则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴,外层电子跃迁回内层填补空穴,同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的,所以放出的光子的波长也集中在某些部分,形成了X光谱中的特征线,此称为特性辐射。

 

X光无损测厚仪测量标准

 

1.国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

 2.美国标准A754/A754M-08

Coating Weight(mass)of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence


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