PCB镀层厚度荧光光谱仪

PCB镀层厚度荧光光谱仪技术指标

元素分析范围从钠（Na）到铀（U） 
可进行测试模式之间的转换，提高测试的效率 
可对10个样品进行自动切换测试 
一次可同时分析多几十种元素 
分析检出限可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9％ 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
长期工作稳定性为0.1％ 
温度适应范围为15℃至30℃ 
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

 PCB镀层厚度荧光光谱仪标准配置

X光源和样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器，滤光片 
高清晰CCD摄像头 
SDD探测器 
数字多道采集处理系统 
高低压电源 
进口400W端窗光管油冷散热系统，具有自动控温功能
样品自动切换系统 
全自动真空系统 
专业X荧光分析软件 
计算机及喷墨打印机 
外观尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
样品腔尺寸：￠376×50 mm 
重量：小于50Kg

性能特点

特殊光路系统 
采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。

大功率X光源 
大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。

数字多道技术 
采用新数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。