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苏州昆山化学镀金测厚仪生产厂家

简要描述:苏州昆山化学镀金测厚仪生产厂家是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。化学镀金测厚仪主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-04-21
  • 访  问  量:33
详细介绍


苏州昆山化学镀金测厚仪生产厂家金属镀层XD-1000测厚仪是一款专门为细小部件测量镀层量身打造的精密仪器,拥有先进的高清CCD可以变焦配置,可以测试凹槽产品;拥有精密的瑞士移动滑轨,可以精确定位任何小样品的测试点,方便快捷;拥有算法EFP法,不但使用了光谱发射法计算,同时也使用了光谱吸收法计算,即使是以往设备的难题,同一金属镀了两层,我们也能精确测量。

苏州昆山化学镀金测厚仪生产厂家金属镀层XD-1000测厚仪性能优势:

下照式设计:快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。

无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm

微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,小检测面积可达0.002mm²

高效率的接收器:在检测0.01mm²以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。

精密微型滑轨:精密的手动移动平台,快速精准定位所需检测的样品。

EFP先进算法软件:可检测单镀层,多镀层,多元合金,甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析,包括轻金属镀层,非金属镀层,达克罗,Nip镀层测试,包括Ni与P的比例也均可检测。

准直器和滤光片:多种准直器和滤光片电动切换,满足各种测试方式的应用。

新一代高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率。

高效的散热系统:对流通风过滤式风冷,仪器即便全天候开启,都可保持恒温恒效。

防护装置:恒压恒流快门式光闸,拥有高压电源紧急自锁功能,带给您全面的防护。



接收器:日本东芝正比计数管,窗口面积≥150mm²

射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器

视频观测光路系统:垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头

测样读取开启方式:恒压恒流快门式光闸

滤光片:铝、空、镍

准直器:ø0.05mm;ø0.1mm;ø0.2mm;ø0.5mm;四准直器任选一种

近测距光斑扩散度:10%

小测量面积:约0.002mm²

测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异形样品,变焦距离0-30mm

样品观察:1/2.5彩色CCD,全局快门,有效像素:1280*960,变焦功能

对焦方式:高敏感镜头(无需增加其他辅助传感器),手动对焦


放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍

样品台尺寸:500mm*360mm

样品可放置区域:480mm*320mm*205mm(C型开槽设计,特殊测试时可以超出区域放置样品)

外部尺寸:540mm*430mm*475mm

移动方式:高精密XY手动滑轨

可移动范围:40mm*50mm

电源:交流220V 50HZ  

功耗:大120W(不包括计算机)

冷却系统:对流通道过滤式风冷

保养升级模块:软硬件模块化

环境要求:使用时温度:10℃-40℃ 存储和运输时温度:0℃-50℃ 空气相对湿度:≤80%

重量:约45KG

随机标准片:十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

其他附件:电脑一套、喷墨打印机、附件箱


镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用化学镀金测厚仪XD-1000对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试

铜镀镍件X射线荧光测试谱图

 

样 品 名

成分Ni(%)

镀层Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

标准偏差

0

0.273409

相对标准偏差

0

1.425257

铜镀镍件测试值

结论

实验表明,使用XRF镀层测厚仪对镀件膜厚测试,结果准确度高,速度快(几十秒),其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。

乔邦仪器有限公司生产的电镀镀层测厚仪在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:

(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便





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