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型号:

光学膜厚XD-1000测试仪

描述:光学膜厚XD-1000测试仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-04-28
  • 访问量

    1056
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

应用领域 

 

光学膜厚测试仪测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层

电子行业中接插件和触点上的镀层

装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS

电镀镀层,如大规模生产零件(螺栓和螺母)上的防腐蚀保护层Zn/Fe,ZnNi/Fe

测量电镀液中金属成分含量

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

光学膜厚测试仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;LED照明、五金工具、半导体、电镀企业等。

 

光学膜厚XD-1000测试仪性能优势

 

1.光学膜厚测试仪精密的三维移动平台 

2.的样品观测系统 

3.*图像识别 

4.轻松实现深槽样品的检测 

5.四种微孔聚焦准直器,自动切换 

6.双重保护措施,实现无缝防撞 

7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度 

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动自检、复位; 

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样; 

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦; 

直接点击全景或局部景图像选取测试点; 

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

 

光学膜厚XD-1000测试仪技术指标

 

光学膜厚测试仪分析元素范围:硫(S)~铀(U) 

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层 

检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm

分析含量:一般为2ppm到99.9% 

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同) 

重复性:可达0.1%

稳定性:可达0.1%

SDD探测器:分辨率低至135eV

*微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头 

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合 

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃ 


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