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乔邦X光镀层测厚仪,荧光膜厚仪

简要描述:金电镀镀层厚度分析仪XD-1000用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器,电镀厚度的把握关系到产品的质量以及生产成本,乔邦X光镀层测厚仪,荧光膜厚仪具有更好的性能和便宜的价格,国产XRF的制造厂家。在金属镀层检测行业,市场占有率50%

  • 产品型号:XD-1000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-05-07
  • 访  问  量:33
详细介绍

国产X射线荧光镀层测厚仪为什么好快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层

一次可同时分析多达五层镀层
*薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高

乔邦X光镀层测厚仪,荧光膜厚仪工作环境:
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:100 kg

检测实例

镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果


乔邦X光镀层测厚仪,荧光膜厚仪性能优势


可靠性高:

由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。

满足不同需求

测试软件为WIn操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。

快速:

1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。

无损:

测试前后,样品无任何形式的变化。

直观:

实时谱图,可直观显示产品测试点

简易:

对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。

性价比高:

相比其他类类仪器,金电镀镀层厚度分析仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。



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