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型号:XTD-200

X荧光电镀厚度测试仪

描述:X荧光电镀厚度测试仪
1.*EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可测量。
2.上照式设计:实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。
3.自动对焦:高低大小样品可快速清晰对焦。
4.变焦装置算法:可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。
5.小面积测量:小测量面积0.002mm2

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-04-28
  • 访问量

    1063
详细介绍
品牌其他品牌价格区间10万-20万
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

X荧光电镀厚度测试仪

是专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

应用领域:

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。


技术指标:
元素分析范围从钠(Na)到铀(U)。
一次可同时分析zui多24个元素。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9%。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1%。
长期工作稳定性为0.1%。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源



产品详情

XTD-200测厚仪,专业表面处理检测解决方案:钕铁硼磁铁Ni/Cu/Ni/FeAlB电镀层分析

两层重复镍镀层厚度分析仪

XTD-200测厚仪,于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

仪器优点:

1. 分析精度*

2. 分析范围广泛

3. 微区定位

4. 操作简单快捷

5. 结果可靠

6. 行业标准


XYZ高精密移动装置:快速定位,手/自动(可选),自动版可实现编程定位多点自动测试。


软、硬件双向操作:人性化设计,实现软件,硬件双向快捷操作。

变焦 对焦:配备高敏感镜头,实现无感对焦,可测各种异形件、超大工件。



性能优势:

1.*EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可测量。

2.上照式设计:实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。

3.自动对焦:高低大小样品可快速清晰对焦。

4.变焦装置算法:可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。

5.小面积测量:小测量面积0.002mm2

6.大行程移动平台:手动XY滑台100*150mm,自动XY平台200*200mm.


X荧光电镀厚度测试仪结构设计:

一六仪器研制的测厚仪*的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度极小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。


EFP算法:


采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法,基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度,在基于此计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。

只需少数标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。




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