镀层测厚仪是一种用于测量金属或其他材料表面镀层厚度的仪器，广泛应用于制造业、质量检测等领域。镀层测厚仪通过不同的物理原理来测量涂层的厚度，常见的原理包括磁性感应原理、涡流原理和X射线荧光原理。磁性感应原理适用于测量非磁性涂层在磁性基材上的厚度，涡流原理适用于测量导电性涂层在导电性基材上的厚度，X射线荧光原理则通过测量被激发出的荧光X射线的能量和强度来确定镀层的元素组成和厚度。1、磁性感应原理：利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。覆层越厚，则磁阻...

国产固定道WDXRF与进口WDXRF在硅基材料分析中的对比与应用推荐波长色散X射线荧光光谱仪（WavelengthDispersiveX-rayFluorescence，WDXRF）是一种广泛应用于材料分析的技术，尤其在硅基材料（如半导体、玻璃、硅片等）中具有重要作用。进口WDXRF设备虽然在性能上表现优异，但成本较高，而国产固定道WDXRF近年来发展迅速，在许多应用场景中已能满足实际需求。本文通过对比国产固定道WDXRF与进口WDXRF，在硅基材料分析中的性能表现，并结合实...

X射线荧光光谱仪原理及主要技术指标对比X射线荧光光谱仪（简称：XRF）X荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内...

RoHS2.0检测仪是根据欧盟RoHS指令(即《关于限制在电子电气设备中使用某些有害成分的指令》2.0版本)要求而设计的，用于检测电子电气产品中的有害物质含量，确保产品符合环保标准。这些有害物质主要包括铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚等。RoHS2.0检测仪的工作原理主要基于X射线荧光光谱法(XRF)、气相色谱-质谱联用法(GC-MS)等分析方法。X射线荧光光谱法(XRF)：利用高能X射线激发样品中的元素，使其产生特征荧光。通过测量这些荧光的强度，可以计算出样品中各元...

精度保障1、检测技术ROHS2.0十项检测仪采用X射线光谱仪检测金属元素，通过分析元素对X射线的吸收或发射特征来确定元素种类和含量。这种技术对于低浓度的金属元素检测具有较高的灵敏度。在检测微量的铅元素时，能够准确区分出其在样品中的含量波动。2、精密的校准系统ROHS2.0十项检测仪配备精密的校准系统。通过使用标准物质进行定期校准，确保仪器的检测结果准确无误。在检测汞含量时，使用含已知浓度汞的标准溶液，使仪器能够准确识别并量化样品中的汞含量。3、优化的检测流程从样品的采集、制备...