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XTD-200钕铁硼磁铁电镀层X射线分析仪

简要描述:XTD-200钕铁硼磁铁电镀层X射线分析仪
1.先进的EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可测量。
2.上照式设计:实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。
3.自动对焦:高低大小样品可快速清晰对焦。
4.变焦装置算法:可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。
5.小面积测量:小测量面积0.002mm2

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-17
  • 访  问  量:29
详细介绍

XTD-200钕铁硼磁铁电镀层X射线分析仪

产品详情

    XTD-200测厚仪,专业表面处理检测解决方案:钕铁硼磁铁Ni/Cu/Ni/FeAlB电镀层分析

两层重复镍镀层厚度分析仪

    XTD-200测厚仪,于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

    仪器优点:

    1. 分析精度极高

    2. 分析范围广泛

    3. 微区定位

    4. 操作简单快捷

    5. 结果可靠

    6. 行业标准

 

    XYZ高精密移动装置:快速定位,手/自动(可选),自动版可实现编程定位多点自动测试。

 

    软、硬件双向操作:人性化设计,实现软件,硬件双向快捷操作。

    变焦 对焦:配备高敏感镜头,实现无感对焦,可测各种异形件、超大工件。

 

 

    性能优势:

    1.先进的EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可测量。

    2.上照式设计:实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。

    3.自动对焦:高低大小样品可快速清晰对焦。

    4.变焦装置算法:可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。

    5.小面积测量:小测量面积0.002mm2

    6.大行程移动平台:手动XY滑台100*150mm,自动XY平台200*200mm.

 

  XTD-200钕铁硼磁铁电镀层X射线分析仪结构设计:

    一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度极小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。

 

    EFP算法:

 

    采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法,基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度,在基于此计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应。

    只需少数标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层。

 


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