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测试膜

简要描述:测试膜:又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,迈拉膜,麦拉膜,XRF测试薄膜,XRF样品膜,样品薄膜,EDX薄膜,EDX样品薄膜,ROHS检测膜,光谱仪样品薄膜;是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。专用样品薄膜是使用方便简捷,无污染的测试用样品薄膜,广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。

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  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-17
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详细介绍

测试膜:又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,迈拉膜,麦拉膜,XRF测试薄膜,XRF样品膜,样品薄膜,EDX薄膜,EDX样品薄膜,ROHS检测膜,光谱仪样品薄膜;是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。专用样品薄膜是使用方便简捷,无污染的测试用样品薄膜,广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。

光谱仪样品薄膜 测试膜 XRF样品膜  光谱仪样品薄膜

常用的镍银或镍金层一般1~3微米。镍层较厚, 要起阻挡层作用。
另外镀的方法上有电镀和EN镀,镀层表面质量不一样。
分立半导体器件的电镀一般采用纯锡或锡基和金电镀,这几年由于欧洲RoHS指令生效,纯锡电镀较为流行。纯锡电镀有Wisker的问题,所以镀层厚度的最小值一般要求超过8微米,并配合150C回火。
不同的封装工艺,对镀层的要求不尽一样,业界没有固定的标准。只要能做到满足可靠性就可以了,200-600微英寸。











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