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镀层测厚仪

简要描述:镀层测厚仪专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。FISCHER(菲希尔)XAN120膜厚仪,特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-24
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详细介绍

FISCHER(菲希尔)XAN120膜厚仪是一台款现代化桌上X射线光谱仪(EDXRF)。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金,铂和银,铑,硬币以及所有的首饰合金和镀层。
XAN? 120测量准确,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用。而且,它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。
无论您想测量未知样品还是测定未知材料,XAN? 120 配合优异的菲希尔 WinFTM? 运行软件都是您正确的选择。
FISCHER(菲希尔)XAN120膜厚仪采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置,X射线源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN? 120 的底部,从而可以采用射线向上的测量技术。集成了含十字线、射线位置指示标志、光亮及位置调节的视频显微系统,将使得样品的放置和测量定位变得快捷而容易。现在您不再需要调节测量台或是样品台——只需放下样品即可开始测量。
可测量.单层.双层,合金层等多种镀层 

XDAL,XDVM菲希尔(FISCHER)膜厚仪,XRF镀层厚度分析仪配创新的X射线光学系统,专门测量极小的面积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品,从较厚的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等 符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
菲希尔XUL(M)膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.

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