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型号:

镀层测厚光谱仪

描述:镀层测厚光谱仪是一款X射线原理检测金属镀层:镀金、镀镍、镀银、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铬等,快速、、操作简单而被广大客户亲睐,主要应用在五金螺丝镀层、线路板镀层、电子连接器镀层、高压开关、PCB板、端子镀层等

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-04-27
  • 访问量

    720
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

镀层测厚光谱仪性能优势

 

1.精密的三维移动平台
2.的样品观测系统
3.*图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
直接点击全景或局部景图像选取测试点;
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

 镀层测厚光谱仪技术指标

 

分析元素范围:硫(S)~铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)
SDD探测器:分辨率低至135eV
*微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃


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