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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装 |
镀层测厚仪x射线光谱分析仪仪器配置
1 硬件:主机壹台,含下列主要部件:
(1) X光管 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统
(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
镀层测厚仪x射线光谱分析仪参数规格
1.分析元素范围:硫(S)~铀(U);
2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;
3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;
4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);
5.SDD探测器:分辨率低至135eV;
6.*微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm;
7.样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头;
8.准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合;
9.仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um;
性能特点
1.精密的三维移动平台;
2.的样品观测系统;
3.*图像识别;
4.轻松实现深槽样品的检测;
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换;
6.双重保护措施,实现无缝防撞;
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度。
安装要求:
1 环境温度要求:15℃-30℃
2 环境相对湿度:<70%
3 工作电源:交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
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