X荧光镀层膜厚测厚仪XD-1000

仪器简介：

XD镀层测厚仪是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。

该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：

• *EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可精准测量

• 上照式设计：实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量

• 自动对焦：高低大小样品可快速清晰对焦

• 变焦装置算法：可对0-90mm深度的凹槽高低落差件直接检测

• 小面积测量：最小测量面积0.002mm²

• 可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

乔邦XRF电镀层测厚仪价格性能特点

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合*光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

乔邦XRF电镀层测厚仪价格技术指标


型号：XD-1000 XRF镀层膜厚测试仪

1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）

2. 涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）

3. 厚度检出限：0.005μm

4. 成分检出限：1ppm

5. 最小测量直径0.05mm（最小测量面积0.002mm²）

6. 对焦距离：0-90mm

7. 样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 仪器尺寸：760mm*550mm*635mm

9. 仪器重量：100KG

选择一六仪器的四大理由：

1.一机多用，无损检测

2.最小测量面积0.002mm²

3.可检测凹槽0-90mm的异形件

4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

影响膜厚仪准确度的因素有以下几种：

1.曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。

2.读数次数：通常由于x荧光镀层膜厚测厚仪的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

3.基体金属特性：对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙4.度相似；对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

5.表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

6.基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测资源网如果没有，可采用其他方法进行校准。

7.边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

X荧光镀层膜厚测厚仪XD-1000性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

X荧光镀层膜厚测厚仪XD-1000技术指标

型号：XD-1000

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：100kg