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型号:

国产XD-1000膜厚测试仪器

描述:国产XD-1000膜厚测试仪器专业的X射线荧光光谱分析仪器,X射线测厚仪,电镀镀层厚度检测仪器,满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm 。

  • 厂商性质

    经销商
  • 更新时间

    2024-04-28
  • 访问量

    1600
详细介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,化工,生物产业,电子,印刷包装

国产XD-1000膜厚测试仪器性能特点

膜厚测试仪器专业的X射线荧光光谱分析仪器,X射线测厚仪,电镀镀层厚度检测仪器,

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

国产XD-1000膜厚测试仪器技术指标

型号:X-Ray膜厚测试仪器XD-1000
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
一次可同时分析*多24个元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,*薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:100kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机


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