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+镀层测厚仪x射线光谱分析仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型镀层光谱分析仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
天津X射线镀层测厚仪是经过多年的经验,研发用于电镀层行业的一款无损测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台,*达到了自动化,是一款功能强大的仪器,为客户解决了测试难题,在行业中大展身手。